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Auriga FEG-FIB

Date de publication : 25/04/2025

Recherche

Configuration de l’appareil :

SpécificationsMEBFIB

Résolution

1.0 nm @ 15 kV

1.9 nm @ 1 kV

< 2.5 nm @ 30 kV

Grandissement

12x — 1,000,000x

300x — 500,000x 

Courant de faisceau

4 pA — 20 nA 

1 pA — 20 nA

Tension d’accélération

0.1 — 30 kV

1.0 — 30 kV

Émission

Schottky field emission diode

Ga LMIS + Pt GIS

Détecteurs d’électrons

In-Lens, SESI, ESB, NTS-BSD

Détecteurs X

Bruker Quanta 200 EDX detector

EDAX Octane Elite Super 70 mm2 EDX detector

Pegasus Velocity Pro EBSD detector

 

Détails du service proposé :

La plateforme est accessible aux utilisateurs extérieurs, qu’ils viennent du secteur académique (université, CNRS, EPST, EPIC, grands établissements, etc.), public (ministères, agences, musées, police, armée, etc.) ou privé (industrie, services, etc.).
L’accueil et les images/analyses sont réalisés par le responsable technique.
Dans certains cas, les utilisateurs expérimentés peuvent avoir accès et travailler de façon indépendante sur les instruments.
Dans certains cas, la présence des clients n’est pas obligatoire. Les échantillons peuvent être envoyés pour imagerie et analyse, dans la mesure où le protocole est clairement établi et assez simple pour ne pas requérir la présence du client.
Nous proposons une formule « service » comprenant une interprétation et une validation des résultats.
Les tarifs internes (IPGP) et académiques sont identiques (majorés des frais de gestion pour les extérieurs) et fixés annuellement par le conseil d’administration de l’IPGP. Les autres tarifs sont négociés au cas par cas avec le responsable administratif.
Les séances sont réservées auprès du responsable technique.
Toute séance programmée et annulée à la dernière minute pourrait être facturée, par exemple dans le cas où il s’avère impossible de la remplacer.

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