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Auriga FEG-FIB
Date de publication : 25/04/2025
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Configuration de l’appareil :
Spécifications
MEB
FIB
Résolution
1.0 nm @ 15 kV
1.9 nm @ 1 kV
< 2.5 nm @ 30 kV
Grandissement
12x — 1,000,000x
300x — 500,000x
Courant de faisceau
4 pA — 20 nA
1 pA — 20 nA
Tension d’accélération
0.1 — 30 kV
1.0 — 30 kV
Émission
Schottky field emission diode
Ga LMIS + Pt GIS
Détecteurs d’électrons
In-Lens, SESI, ESB, NTS-BSD
Détecteurs X
Bruker Quanta 200 EDX detector
EDAX Octane Elite Super 70 mm2 EDX detector
Pegasus Velocity Pro EBSD detector
Détails du service proposé :
La plateforme est accessible aux utilisateurs extérieurs, qu’ils viennent du secteur académique (université, CNRS, EPST, EPIC, grands établissements, etc.), public (ministères, agences, musées, police, armée, etc.) ou privé (industrie, services, etc.). L’accueil et les images/analyses sont réalisés par le responsable technique. Dans certains cas, les utilisateurs expérimentés peuvent avoir accès et travailler de façon indépendante sur les instruments. Dans certains cas, la présence des clients n’est pas obligatoire. Les échantillons peuvent être envoyés pour imagerie et analyse, dans la mesure où le protocole est clairement établi et assez simple pour ne pas requérir la présence du client. Nous proposons une formule « service » comprenant une interprétation et une validation des résultats. Les tarifs internes (IPGP) et académiques sont identiques (majorés des frais de gestion pour les extérieurs) et fixés annuellement par le conseil d’administration de l’IPGP. Les autres tarifs sont négociés au cas par cas avec le responsable administratif. Les séances sont réservées auprès du responsable technique. Toute séance programmée et annulée à la dernière minute pourrait être facturée, par exemple dans le cas où il s’avère impossible de la remplacer.
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